Optisches Nahfeldmikroskop

Institut für Angewandte Physik

Das optische Rasternahfeldmikroskop (eng: scanning nearfield optical microscope, SNOM) gehört zur Familie der Rastersondenmikroskope. Dabei wird das Bild nicht wie beim Licht oder Elektronenmikroskop mit einer optischen oder elektronenoptischen Abbildung erzeugt, sondern über die Wechselwirkung einer Sonde mit der Probe. Die zu untersuchende Probenoberfläche wird mittels dieser Sonde in einem Rasterprozess Punkt für Punkt abgetastet. Die sich für jeden einzelnen Punkt ergebenden Messwerte werden dann zu einem digitalen Bild zusammengesetzt.

Als Sonde wird eine angespitzte, mit Metall beschichtete Glasfaser verwendet, an deren Spitze sich eine 50 nm bis 150 nm große Apertur befindet durch welche Licht in die Faser eintreten kann. Das SNOM nimmt simultan zwei Bilder auf. Neben der Topographie der Probe erhält man Informationen über das optische Nahfeld an der Probenoberfläche. Damit eignet sich das SNOM hervorragend um die Wechselwirkung von Oberflächenplasmonen mit Nanostrukturen zu untersuchen.

Ansprechpartner:

Dr. Stefan Mendach | smendach~AT~physnet.uni-hamburg.de
Jens Ehlermann | jehlerma~AT~physnet.uni-hamburg.de